源控案例 | 半导体自动检测：让每一片芯片都“健康”上岗-数控专题

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源控案例 | 半导体自动检测：让每一片芯片都“健康”上岗

时间:2025-02-14 作者: 来源:中国工控网

案例用户为国内某半导体检测解决方案商，为保障其设备稳定运行，用户对其核心计算单元-基于用户需求，源控提供了CIS-DQ67-FAR1标准4U上架式箱体电脑为核心计算单元的半导体测试解决方案，该方案具备以下优势：

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