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颠覆性AI技术，实现前所未有的处理速度

时间:2023-08-28 作者: 来源:中国工控网

使用ZEISS Xradia 630 Versa（采用40X-P物镜）进行锂离子电池X射线断层扫描，无需打开电池即可实现无损扫描。

通过RaaD 2.0实现突破性的分辨率性能

解锁全新的应用能力

自Versa X射线显微镜推出以来，就已经实现在维持分辨率的情况下于远距离下成像（即远距离分辨率技术）。能够以高分辨率对前所未有的各种不同样品、尺寸和长度尺度进行成像。

加入支持更高能量并配备新物镜40X Prime的RaaD 2.0，迈入成像新台阶，体验全新升级的ZEISS Xradia 630 Versa。

在无损检测、高分辨率X射线显微镜的独特能力的加持下，可在整个能量范围（从30 kV到160 kV）内实现出色的450 nm-500 nm分辨率性能。

解锁全新的应用能力，打开三维X射线断层扫描的崭新篇章。

使用DeepScout（右图）和未使用DeepScout（左图）成像的聚合物电解质燃料电池（PEFC）。

探索高品质成像

基于AI的深度学习重建技术

ZEISS DeepRecon Pro是一种深度学习重建技术，DeepScout与之相结合，可为重复性工作流程提供卓越的吞吐量（高达10倍）或图像质量，形成全新的AI超级增强套包。

推动材料研究中的相关研究发展

精确导航指引，实现识别、访问、制备和分析功能

关联多尺度和多模态，实现X射线导航下的位点选择，深入了解所选样品位点的代表性。

使用独特的LaserFIB相关工作流程，通过精准搜索实现识别、访问、制备和分析功能。

利用fs激光驱动的FIB-SEM（LaserFIB）的成像或分析功能进行分析，或使用nanoCT等技术制备样品用于进一步分析。

探索演示内容

了解推动材料研究中的相关研究发展，包括AI驱动的X射线和Laserfib三维显微技术的创新。

精准快速准备FIB-SEM结构

了解如何直接获取隐藏在表面下的感兴趣区域（ROI），揭示不同材料类型中的所有结构细节。无论是硬质或软质材料、纳米科学、工程或能源材料、导电或绝缘材料：LaserFIB可实现前所未有的样品加工速度。